compass500便携式rohs分析仪-英飞思科学仪器

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    2023-3-7

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射线管发射具有高能量的粒子束照射样品, 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时, 便可将该轨道的电子逐出, 形成空穴, 即时外层电子跃向空穴, 电子轨道层的能量差将以特征x射线荧光逸出原子, 其能量差与原子序数相对应, 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据rohs检测中元素的特点以及大量实际检测经验, 能量色散x射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的rh靶来产生特征x射线激发样品原子中k层l层谱线, 可降低背景





拆分原则

1 拆分的目标是通过适当的拆分手段来获得构成电子电气产品的均质材料。需采取适当的拆分手段来获得均质材料,以---拆分结果用于后续测试时,不会因为拆分不当而产生错误判断。

2 同一生产厂生产的相同功能、同规格(参数)的多个模块、部件或元器件可以归为一类,从中选取代表性的样品进行拆分,使用相同的材料(包括基材和添加剂)生产的不同部件可视为一个检测单元。

3 颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。

4 对于相关---中规定的豁免清单中的项目或材料,在拆分时---以识别。







材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,compass500便携式rohs分析仪,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用x荧光光谱仪测量还是有问题,因为x荧光透过不同物质有厚(某元素的x荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。







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