




使用这些标样可以根据的化学含量对测量出的xrf强度进行校准。通过这样的校准,能够以准确度和度确定未知聚合物样品的成分。美国加联提供的标样的元素分布同质性---,而且,由于标样中的各种元素含量经过精挑细选且不具关联性,因此可以准确确定谱线重叠校正系数。校准标样程序包包含四个多元素聚乙烯标样(每个标样的元素含量和重复项各不相同)和一个空白样。

射线管发射具有高能量的粒子束照射样品, 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时, 便可将该轨道的电子逐出, 形成空穴, 即时外层电子跃向空穴, 电子轨道层的能量差将以特征x射线荧光逸出原子, 其能量差与原子序数相对应, 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据rohs检测中元素的特点以及大量实际检测经验,cs995型红外碳硫分析仪, 能量色散x射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的rh靶来产生特征x射线激发样品原子中k层l层谱线, 可降低背景

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用x荧光光谱仪测量还是有问题,因为x荧光透过不同物质有厚(某元素的x荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。

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