近几年，一直---的欧盟强制性标准——<关于---在电子电器设备中使用某些有害成分的指令>rohs 指令，相对于旧版，多将新版欧洲 rohs 指令称作 rohs2.0），在的颁布稿中也将---二---
二(2-已)酯(dehp)、---二---二丁酯（dbp）、---二---丁苄酯（bbp）和(dibp)，这 4 种物质添加为---使用物质。这些物质分别以均质材料中 0.1%为允许浓度，于 2019 年 7 月 22 日起实施。该指令实施后，在 eu 上市的所有电气和电子设备（以及监视控制设备除外）及其下游供应商生产的零部件、原材料和包装件等均涉及到 dehp、dbp、bbp、dibp 含量的检测。
相邻元素的kα谱线完全分开， 结构上没有分光系统， si-pin半导体传感器安装位置邻近样品， 检测灵敏度高， 所以xrf光谱rohs分析仪compassionately00成为了rohs重金属检测的仪器。
由于ro hs检测涉及成千上万种产品， 基体材料种类繁杂， 有单一材质， 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及pe、pvc、abs等塑料类，edx-8800h立式x荧光光谱仪怎么样， 目前---在检测方法方面没有形成一致性的结论， 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的---进行测试。其中能量色散x射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚（某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
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