池州edx8000tplusxrf镀层测厚仪-英飞思科学(商家)

全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。

苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：efficiency scientific instrument co.，ltd.

公司logo和英文缩写为esi。

英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。

xrf镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，edx8000tplusxrf镀层测厚仪，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。