镀层测厚仪膜厚仪报价-镀层测厚仪膜厚仪-英飞思科学

英飞思xrf镀层测厚仪优势

>;微光斑x 射线---光学器件

通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。

>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现---测量。

>;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，镀层测厚仪膜厚仪报价，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

xrf金属镀层测厚仪产品特点

>;测试快速，无需样品制备

>;可通过内置高清ccd---机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

>;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>;可覆盖元素周期表mg镁到u---

>;sdd检测器，具有高计数范围和---的能量分辨率

>;可切换准直器和滤光片

xrf金属镀层测厚仪应用场景

>;edx8000b镀层测厚仪可以用于pcb镀层厚度测量，pcb镀层分析，金属电镀镀层分析；

>;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度