英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，xrf镀层测厚仪，可以轻松地进行日常测量。
>;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层，如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能
全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。
xrf镀层测厚仪-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是江苏 苏州 ,分析仪器的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、---发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在英飞思科学---携全体员工热情欢迎---垂询洽谈，共创英飞思科学美好的未来。
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