白城edx-8000b型xrf镀层测厚仪-苏州英飞思科学

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    2024-2-5

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膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如cr/fe, ni/fe, ag/cu,zn/fe等

多涂镀层应用:如au/ni/cu, ag/pb/zn, ni/cu/fe等

合金镀层应用:如znni/fe,edx-8000b型xrf镀层测厚仪, znal/ni/cu等

合金成分应用:如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度








膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪

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>;微光斑x 射线---光学器件

通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现---测量。

>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现---测量。

>;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。







测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。苏州英飞思科学仪器有限公司




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