材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚（某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
原子发射光谱分析是根据原子所发射的光谱来测定物质的化学组分的。在正常的情况下，原子处于稳定状态，它的能量是低的，这种状态称为基态。但当原子受到能量(如热能、电能等)的作用时，原子由于与高速运动的气态粒子和电子相互碰撞而获得了能量，使原子中外层的电子从基态跃迁到更高的能级上，处在这种状态的原子称激发态。电子从基态跃迁至激发态所需的能量称为激发电位，当外加的能量足够大时，原子中的电子脱离原子核的束缚力，edx 8800m材料分析光谱仪厂家，使原子成为离子，这种过程称为电离。
电子电气产品中---检测rohs2.0样品拆分通用要求
general disassembly requirements for testing hazardous substances in electrical&electronic products
在电子电气产品---的检测中 ，样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分，将样品拆分成终提交检测的单元，然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料，按照一定的条件，如、体积等符合本标准规定的，可以直接提交检测，不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明
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