




用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以---产品和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。

英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
xrf镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪edx8000b是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,edx8000tplusxrf镀层测厚仪,如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

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