微区膜厚仪供应商-白山微区膜厚仪-英飞思科学仪器公司

苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：efficiency scientific instrument co.，ltd.

公司logo和英文缩写为esi。

英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。

xrf镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

xrf镀层测厚仪工作原理

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应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，微区膜厚仪报价，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、x射线测厚仪利用x射线穿透被测材料时，x射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。




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